加工定制:是 | 类型:表面粗糙度仪 | 品牌:TIME/时代 |
型号:thisis型号 | 测量范围:测量范围5934 | 测量参数:测量参数6958 |
取样长度:取样长度6067mm | 评定长度:评定长度5701mm | 扫描长度:扫描长度5034mm |
电源:电源3375 | 重量:重量7560kg | 外型尺寸:外型尺寸5620mm |
***和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。***法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别注意,测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
仪器由德国生产,集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能,可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如:
* 钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
* 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
* 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
* 铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。
* 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。